RLE-CH04

產品型號:RLE-CH04
產品說明:
    實驗內容
    1、液晶結構認知與像素尺寸測量實驗;
    2、液晶分子表面方向分佈測量實驗;
    3、液晶透過率測量實驗;
    4、SLM振幅調製曲線測量實驗;
    5、SLM液晶取向測量實驗;
    6、SLM相位調製模式的參數測量及標定實驗;
    7、微光學元件設計與測量實驗;
    8、抑制黑柵效應實驗。
價格(NTD):$0