UE-KO-EFEM-8

UE-KO-EFEM-8

產品型號：UE-KO-EFEM-8
產品說明：
    產品特色:
    ● 具有SEMI認證/發明專利
    ● 特別開發應用於第三代半導體材料
    ● 克服透明與半透明材料的尋邊對位
    ● 可對150um晶圓進行傳送

    應用場景:
    ● 可搭配各式設備進行傳送如桌上型顯微鏡（Leica, Nikon, Olympus, etc..）
    ● Wafer AI抽檢/複判設備
    ● 白光干涉(共焦)量測設備
    ● 膜厚量測儀
    ● 粗疵度量測設備
    ● 4PP 探針量測設備
價格(NTD)：$0
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