上料機 |
請參考UE-KO-EFEM-8規格 |
光學系統 |
可搭配我司所有3D量測儀/光學顯微鏡系列設備 |
軟體功能 |
瑕疵地圖座標讀取(對應KLA,Camtek等...), 與自動對位 |
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瑕疵地圖資訊篩選與自動拍照, 存檔 |
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自動圖像測量:CD 、Overlay |
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AI 自動瑕疵抓取與分類功能 |
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瑕疵地圖圖片數據庫 |
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自動光源調整系/自動圖像攝像功能/自動定位測量 |
詳細規格資訊請與我們聯絡 :
聯絡人: Andy Wen
電話: 03-4626569*2805
Email: andy.wen@unice.com.tw