電光調製實驗
電光調製實驗
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產品名稱 : 電光調製實驗
產品說明 :
晶體在電場作用下會產生雙折射效應,利用此效應可以實現對光的相位和強度進行調製。本實驗使用鈮酸鋰晶體作為電光器件,可以定性觀察晶體錐光干涉圖,並定量測量晶體電光效應的半波電壓。
產品規格
實驗內容
1、晶體錐光干涉測量實驗;
2、晶體電光調製半波電壓測量實驗;
3、晶體電光信號調製傳輸實驗;
2、晶體電光調製半波電壓測量實驗;
3、晶體電光信號調製傳輸實驗;
實驗效果圖
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電光晶體部件 | 錐光平涉圖 | 電光調制波形圖 |
產品型號 | 產品說明 | 價格(NTD) | 產品數量 | |
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0 | RLE-SA06-A | 電光調製實驗 | - |