雷射元件應用
雷射元件應用
BeamPeek™，用於基層製造的高功率鐳射光束分析和功率測量系統 | Ophir Photonics
BeamPeek 同時整合了光束分析和功率測量系統，用於快速、準確、即時的測量基層製造系統腔體中的鐳射。
BeamPeek 系統只需三秒即可同時提供光束輪廓分析、焦點分析和功率測量。 無需水或風扇冷卻，因為BeamPeek 內含一個可更換的冷卻結構，可消除長時間或重複量測的冷卻時間。
BeamPeek 系統非常適合基層製造腔體內部粉末床的量測。 它能夠承受腔體內部條件，包括金屬粉末殘留物的存在以及無冷卻環境等。
AlignMeter 用於關節臂校準
AlignMeter 典型應用：
- 直線度測量
- 機器校準
- 關節臂校準
- 雷射校準
影片中展示關節臂校準之應用。
Duma Optrpnics AlignMete之特點
1. 同時測量位置和角位移。
2. 激光束的測量能力低至 0.1µm 位置分辨率和 .006mRad 角度分辨率。
3.提供 100mm/50mm 焦距、9mmx9mm 或 4mmx4mm PSD。
如何使用 PD300RM 測量 LED 的輻照度與劑量
您的應用是否會使用 LED 照射目標表面？ 舉例來說UV膠的固化就是很好的例子。
Ophir 的新型 PD300RM 傳感器可量測UV光LED 與可見光LED 的幅照度與劑量，這部影片將介紹PD300RM 的功能、獨特之處以及使用方法。
透過 “StarViewer” Android APP 來操作 Ophir 的新產品
在這部短片中，您將學習如何透過“StarViewer”Android APP來操作 Ophir 的新產品 [ 超微型獨立式功率計 Ariel ]
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Laser Measurement PC Interfaces 雷射量測用的電腦通訊連接器
如果您的所有雷射測量工作都涉及筆記型電腦或 PC，而不是獨立的顯示儀表計，Ophir 的直接連接 PC 的接口之一可能是理想的解決方案。
這些是成熟的雷射功率計和能量計，但 PC 不是單獨的板載顯示器，而是您的顯示器。 在本影片中，您將了解 Ophir 提供的各種 PC 接口。
積分球對光束尺寸及發散角度關係
[OPHIR] 積分球對光束尺寸及發散角度關係
光束尺寸及發散角度變動會導致 光束功率量測結果變動。
在挑選積分球 或是變更 光束量測時 須注意到 光束的尺寸及發散角度 是否有符合在規格內。
以避免量測結果失真