雷射元件應用
雷射元件應用
Kentek - 雷射護目鏡使用概念說明
介紹人眼防護的雷射護目鏡，尤其雷射也有不可見的波段，在工作環境上更需要有雷射護目鏡來保護人的眼睛。護目鏡並非只有在操作雷射的人員才需要，只要靠近雷射作業的人員都需要攜帶。避免使用環境意外造成人眼的損傷。
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OPHIR - 二合一光束分析功率計BeamCheck
BeamCheck 是一種集成雷射測量系統，旨在測量雷射金屬積層製造之設備的關鍵雷射參數。
BeamCheck 包括一個雷射光束分析儀和一個可NIST追朔的雷射功率傳感器，它將提供雷射功率密度分佈的完整分析。
分光鏡將一小部分光束引導至相機，而大部分光束則引導至雷射功率傳感器。從這些測量中可以得出準確的光斑尺寸和功率。
OPHIR Ariel 雷射功率計，超小尺寸，免水冷可量測8KW高功率雷射
◆ 測量功率高達 8000W
◆ 緊湊且獨立，內置顯示屏、電池和藍牙通信
◆ 無水冷
◆ 防塵、防濺
◆ 包括用於高功率密度光束的可拆卸擴散器
◆ 波長：440-550nm、900-1100nm、2.94μm、10.6μm
◆ 14KJ 的高熱容量，用於連續測量不間斷
◆ 顯示測量值僅需 3 秒
◆ 超長續航：15小時以上
◆ 兩種測量模式：短曝光“脈衝功率”和連續
◆ 受PC和Android應用程序支持
Ophir® BeamWatch® Integrated – 工業高功率鐳射器的自動光束測量 | Ophir Photonics
MKS Ophir 推出的 BeamWatch 整合式工業雷射光束分析儀，可滿足鐳射材料加工用戶需求。 專為欲同時進行光束分析與高功率量測設計，結合了 BeamWatch 非接觸式光束分析和 Ophir 功率計，適合高工業自動化作業標準。 光束分析和功率計整合在一個封閉而且堅固的架構中。 除 GigE 外，還提供 ProfiNet、Ethernet/IP、EtherCAT 或 CC-Link 等工業接口，以便將系統輕鬆整合到自動化生產線中。 只需幾秒鐘即可完成全自動測量。
此外，還可以根據相關加工參數設置 OK/NOK（好/壞）信號輸出。 如果出現 NOK，用戶可以在錯誤參數生產出不良零件前及時發現。
BeamPeek™，用於基層製造的高功率鐳射光束分析和功率測量系統 | Ophir Photonics
BeamPeek 同時整合了光束分析和功率測量系統，用於快速、準確、即時的測量基層製造系統腔體中的鐳射。
BeamPeek 系統只需三秒即可同時提供光束輪廓分析、焦點分析和功率測量。 無需水或風扇冷卻，因為BeamPeek 內含一個可更換的冷卻結構，可消除長時間或重複量測的冷卻時間。
BeamPeek 系統非常適合基層製造腔體內部粉末床的量測。 它能夠承受腔體內部條件，包括金屬粉末殘留物的存在以及無冷卻環境等。
AlignMeter 用於關節臂校準
AlignMeter 典型應用：
- 直線度測量
- 機器校準
- 關節臂校準
- 雷射校準
影片中展示關節臂校準之應用。
Duma Optrpnics AlignMete之特點
1. 同時測量位置和角位移。
2. 激光束的測量能力低至 0.1µm 位置分辨率和 .006mRad 角度分辨率。
3.提供 100mm/50mm 焦距、9mmx9mm 或 4mmx4mm PSD。
如何使用 PD300RM 測量 LED 的輻照度與劑量
您的應用是否會使用 LED 照射目標表面？ 舉例來說UV膠的固化就是很好的例子。
Ophir 的新型 PD300RM 傳感器可量測UV光LED 與可見光LED 的幅照度與劑量，這部影片將介紹PD300RM 的功能、獨特之處以及使用方法。